更新时间：2025-09-22 09:55:08
AOI缺陷检测-无图缺陷检测（KE-4000）
设备简介：
用于Si、SiC、石英玻璃等化合物衬底检测，上下面和边缘同步检测，保证检测质量，结合AI算法，提升检测品质，核心部件验证充分运行稳定。
技术指标：
缺陷展示：
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