更新时间:2025-09-22 09:38:55
形貌厚度自动测量设备-桌面式(MO-3000)
设备简介:
设备采用光谱共焦或光学干涉法高精度量测,自研高精度运动平台保证测量稳定可靠,采用三点支撑方式减少晶圆污染风险。
设备特点:
高性价比
返回列表
展会邀请 | 妙光睿芯邀请您共赴上海SEMICON展
聚力同行,共启新程|成都莱普莅临妙光睿芯考察交流,深化战略合作
上海慕尼黑展会邀您共赴!我们带着重磅新品与行业前沿方案亮相现场,诚邀各位朋友莅临交流~
中国半导体必须保持高度警惕
ASML CEO:中国绝不接受卡脖子
大芯片封装需求,大增
微信扫描